據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現雜散光；③根據儀器學理論中的光電發(fā)射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應（靈敏度）低，容易顯現雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方，此時zui容易產生雜散光。所以，對于紫外可見分光光度計來講，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。